正畸头影测量是口腔正畸学中通过头颅定位X线片对颅颌面结构进行定量分析的重要方法,而标志点的准确定位是头影测量分析的基础，这些标志点代表了颅颌面解剖结构的关键位置，通过它们之间的角度、距离等测量值，可客观评估患者的颌骨形态、牙齿位置、软组织轮...

，系统整合了颅颌面解剖结构、生长发育规律、生物力学原理及错颌畸形矫治策略，为正畸医生提供理论指导与临床思维框架，以下从解剖基础、生物力学机制、错颌畸形分类及矫治原则、临床应用四个维度展开详细阐述，颅颌面解剖基础与生长发育颅颌面骨骼由颅骨、上...