正畸头影测量是口腔正畸学中通过头颅定位X线片对颅颌面结构进行定量分析的重要方法,而标志点的准确定位是头影测量分析的基础，这些标志点代表了颅颌面解剖结构的关键位置，通过它们之间的角度、距离等测量值，可客观评估患者的颌骨形态、牙齿位置、软组织轮...
